額葉癲癇的常規(guī)檢查有哪些
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額葉癲癇病是一種發(fā)作部位起于人體腦部額葉位置的癲癇病。這些癲癇病發(fā)作一般癥狀表現(xiàn)差異很大。是一種發(fā)病率極高,發(fā)作頻繁的癲癇病類型。這并不是說額葉癲癇就沒有遺傳性,與其它癲癇類型一樣,在診斷額葉癲癇時(shí),要了解雙親,近親家屬中是否有癲癇發(fā)作,詳細(xì)對患者的家庭系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)的調(diào)查。
額葉癲癇發(fā)生的病因
1、頭創(chuàng)傷是最常見的額葉癲癇的原因,頭部外傷時(shí)常導(dǎo)致額葉皮質(zhì)挫傷,晚發(fā)性癲癇發(fā)生風(fēng)險(xiǎn)與創(chuàng)傷嚴(yán)重程度有關(guān)。首次發(fā)作一般在數(shù)月內(nèi),也可在多年以后,病理檢查常見腦瘢痕組織。
2、皮質(zhì)發(fā)育不良最多見,其它發(fā)育損傷有節(jié)結(jié)性異位和錯構(gòu)瘤等;
3、膠質(zhì)增生見于許多額葉癲癇手術(shù)后病理標(biāo)本中,可繼發(fā)于頭外傷、圍生期缺氧、繼往手術(shù)以及其他不明性原因;
4、頭創(chuàng)傷是最常見的額葉癲癇的原因,頭部外傷時(shí)常導(dǎo)致額葉皮質(zhì)挫傷,晚發(fā)性癲癇發(fā)生風(fēng)險(xiǎn)與創(chuàng)傷嚴(yán)重程度有關(guān)。首次發(fā)作一般在數(shù)月內(nèi),也可在多年以后,病理檢查常見腦瘢痕組織。
額葉癲癇的常規(guī)檢查
一、影像學(xué)檢查
應(yīng)用結(jié)構(gòu)性和功能性影像方法定位,CT、MRI可發(fā)現(xiàn)一些小的低級別的膠質(zhì)瘤、AVM、海綿狀血管瘤以及大腦皮質(zhì)發(fā)育不全,還可發(fā)現(xiàn)腦膜腦瘢痕、腦萎縮、腦囊性改變等,有利于致癇灶定位。
二、腦電圖檢查
由于額葉癲癇發(fā)作常很快引起雙側(cè)額葉同步性發(fā)放,頭皮腦電圖很難于定位,并且常由于偽跡難于解釋腦電圖的變化。額葉癲癇的致癇灶常常呈多灶或雙側(cè)額葉灶,也影響了額葉致癇灶的準(zhǔn)確定位。此時(shí)應(yīng)行視頻腦電圖,觀察發(fā)作期的腦電圖變化及發(fā)作的行為改變,以助定位。它是對頑固性癲癇病人進(jìn)行術(shù)前評估的主要手段之一。還應(yīng)常規(guī)行特殊頭皮記錄電極(如眶頂電極)記錄、長程腦電圖、誘發(fā)試驗(yàn)等檢查。還應(yīng)該選擇性地采用顱內(nèi)電極記錄發(fā)作期的腦電圖,其可靠性較大、準(zhǔn)確率高。但起源額葉區(qū)的癲癇的腦電圖十分多樣和復(fù)雜,發(fā)作間期腦電圖是現(xiàn)代神經(jīng)影像和長程視頻腦電圖之外十分重要的輔助手段,與顳葉癲癇相比較,發(fā)作間期癲癇樣放電對于額葉癲癇的診斷價(jià)值相對有限。約70%的額葉癲癇患者有發(fā)作間期癲癇樣放電,但其難以定位,呈多灶性或泛化。并且常規(guī)的腦電圖只能記錄額葉皮質(zhì)的一部分,無法正確地記錄額葉深部的電位,和眶回、扣帶回和中線半球間皮質(zhì)的放電。額葉與顳葉之間存在著一些主要的功能通路,包括鉤束和扣帶回。這些功能性網(wǎng)絡(luò)的存在使得癲癇可以在額葉內(nèi)外播散且阻礙腦電圖的準(zhǔn)確定位。但在額葉癲癇的術(shù)前評估中,腦電圖仍不失為一種重要的手段。
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